납땜 인두 가열 안정제 25W. 계획, 설명

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납땜 인두 가열 안정기 25W. 무선 전자 및 전기 공학 백과사전

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220V 네트워크에 연결된 납땜 인두를 사용하여 설치 작업을 수행할 때 무선 아마추어는 팁의 가열 온도와 관련된 문제를 겪는 경우가 있습니다. 저녁에는 일반적으로 주전원 전압이 떨어지고 땜납이 점성을 띠게 되며 구조가 세분화됩니다. 반대로 낮에는 전압이 상승하고 팁이 과열되어 땜납과 첨가제가 과도하게 증발할 수 있습니다. 두 경우 모두 일정 시간 작동 후 접점의 솔더 조인트가 분산(층화)됩니다. 또한, 찌르는 소리가 과열되면 급속히 소진됩니다. 제안된 안정 장치를 사용하면 납땜 인두의 평균 전류를 안정화하여 이러한 단점을 제거할 수 있습니다.

현재 TL494, KA7500 마이크로 회로(국내 아날로그 - KR1114EU4) 기반 IPP는 컴퓨터 전원 공급 장치 등에서 널리 사용됩니다[1]. 이를 바탕으로 납땜 인두의 발열체에 흐르는 전류를 안정화시키는 장치를 조립하여 팁의 안정적인 가열을 얻는 것이 편리합니다. 전류 안정화는 컨트롤러에 의해 조절 트랜지스터 SHI의 개방 상태 시간을 조정함으로써 달성됩니다. 일반적으로 온도 안정화 장치는 피드백 회로에 포함되고 발열체 또는 납땜 인두 팁에 장착되는 센서를 사용합니다. 이 장치에서 전류 센서는 인쇄 회로 기판에 있으므로 25V 등급의 220W 납땜 인두를 연결할 수 있습니다.

납땜 인두 열 안정제 25W
그림. 1

안정기 회로가 그림에 나와 있습니다. 1. 주전원 전압은 다이오드 브리지 VD1-VD4를 정류하고 커패시터 C1을 평활화합니다. 정류 전압을 높이는 커패시터 덕분에 안정기는 주 전압이 180V로 떨어지더라도 발열체를 통한 평균 전류를 일정하게 유지합니다. 파라메트릭 안정기에서 DA1 컨트롤러 SHI 칩에 전원이 공급됩니다.

평활 커패시터 C6가 있는 R5, VD2. DA1 칩의 전류 소비는 약 12mA이므로 퀀칭 저항 R6에서 약 3,5W가 방출되는데 이는 안정기의 일부 단점입니다. 컨트롤러에는 구동 톱니파 전압 발생기가 포함되어 있으며, 그 주파수는 R5, C3 요소에 의해 결정되며 0,9kHz와 같습니다. 이는 F=1,1 /(R5xC3) [2] 공식으로 계산됩니다. 컨트롤러의 출력 C2에서 트랜지스터 VT0,55에 만들어진 인버터를 통해 1ms 주기의 제어 펄스가 강력한 조절 트랜지스터 VT2의 게이트에 공급됩니다. 인버터가 있으면 VT2 고장 시 미세 회로 고장 가능성이 줄어듭니다. 소스 회로 VT2에는 전류 센서-저항 R11이 포함되어 있으며, 이로부터 직사각형 펄스는 적분 회로 R10C5에 공급됩니다. 펄스의 진폭은 약 0,3V입니다.

이 회로의 출력에서 컨트롤러 오류 신호 증폭기(핀 16)의 비반전 입력에 일정한 전압이 공급됩니다. 예시적인 전압 Uref(핀 15)는 저항 분배기 R14-R1을 통해 반전 입력(핀 3)에 적용됩니다. 컨트롤러 출력 C2의 부하를 통과하는 전류가 변경되면 펄스의 듀티 사이클이 변경되어 오류 신호 증폭기의 입력에서 동일한 전압 값을 유지합니다. 납땜 인두 가열 요소를 통과하는 평균 전류는 일정하게 유지됩니다.

가변 저항 R3은 가열 온도를 조절합니다. LED HL1 - 전류 표시기. 부하를 통과하는 전류가 많을수록 더 밝아집니다.

납땜 인두 열 안정제 25W
그림. 2

단면 호일 유리 섬유로 만들어진 인쇄 회로 기판의 그림이 그림에 나와 있습니다. 2. HL1, C4, R3 및 R9를 제외한 모든 요소가 장착됩니다.

납땜 인두 열 안정제 25W
그림. 3

구조적으로 안정 장치는 외부에 도색된 적절한 치수의 알루미늄 케이스에 배치됩니다. 그의 사진은 그림 3에 나와 있습니다. 1. 트랜지스터 VTXNUMX - 모든 저전력 구조 npn예를 들어 KT503, KT315 또는 VS 107 시리즈 KP707V2 트랜지스터는 방열판 없이 설치되며 수입 BUZ90으로 교체할 수 있습니다. LED HL1 - 모든 유형의 저전력 적색 광선. 가변 저항 R3 - PP2-12 (높은 신뢰성이 특징) R6 - 세라믹 SQP-5W, 더 나은 방열을 위해 열 페이스트를 통해 알루미늄 케이스에 압착되었습니다. 나머지 저항은 예를 들어 MLT입니다. 산화물 커패시터 - 수입; 와 함께3, C5 - 세라믹, 예: KM, K10-17.

적절하게 조립된 안정 장치는 즉시 작동하기 시작합니다. 부하가 연결된 상태에서 저항 R3의 손잡이를 돌려 LED NI의 밝기 변화를 관찰합니다. 그렇지 않으면 컨트롤러의 핀 12에서 전압 +12V, 핀 5에서 +14V를 확인하십시오. 이 경우 안정기가 220V 네트워크에 연결되어 있으므로 예방 조치를 취해야하며 오실로스코프가 있으면 트랜지스터 VT1, 게이트 및 소스 VT2를 기반으로 펄스가 모니터링됩니다. 소스 전압(저항 R11)은 기존 DC 전압계를 사용하여 모니터링할 수 있습니다.

문학

Aleksandrov R. 개인용 컴퓨터용 Litany 블록 회로도. - 라디오, 2002, No. 5, p. 21-23; 6호, p. 22, 23; 8호, p. 23, 24.
Sorokoumov V. 펄스 충전기. - 라디오, 2004, No. 8, p. 46, 47.

저자: S. 도브로바노프

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중성자 내부에서 발견되는 미지의 주기적인 진동 14.11.2021

중국의 BEC-II 입자 가속기를 사용하는 과학자들은 중성자 내에서 알려지지 않은 성질의 주기적인 진동이 존재한다는 증거를 발견했습니다.

측정 결과 중성자의 전자기 구조가 주기적으로 변하는 것으로 나타났습니다. 유사한 것이 이전에 양성자에 대해 기록되었습니다. 후속 실험과 이론적 계산은 이러한 진동이 어떻게 발생하고 핵자 구조에서 어떤 역할을 하는지 이해하는 데 도움이 될 것입니다.

거의 모든 기본 입자는 물리학자들이 쿼크와 글루온이라고 부르는 작은 물체로 구성됩니다. 양성자, 중성자 및 기타 "무거운" 중입자 입자에는 세 개의 쿼크가 있습니다. 그들의 작은 "형제"인 중간자는 두 개의 유사한 구성 요소로 구성되어 있으며 그 중 하나는 반물질의 기본 구성 요소인 반쿼크입니다.

과학자들은 오랫동안 쿼크가 양성자, 중성자 및 기타 입자 내부에 어떻게 분포되어 있는지 이해하기 위해 노력해 왔으며, 쿼크가 서로 어떻게 상호작용하고 가상 쿼크의 "바다"와 상호 작용하는지 연구하여 공간의 어느 지점에서나 지속적으로 나타나고 사라지는 방법을 연구해 왔습니다. 과학자들이 제안한 바와 같이 이러한 모든 상호 작용은 입자의 구조, 크기, 질량 및 기타 특성에 영향을 미치며, 측정 결과는 때때로 이론적 예측과 일치하지 않습니다.

중국 고에너지물리연구소 Yuan Changzheng 교수가 이끄는 물리학자들은 BEC-II 입자가속기에서 중성자의 구조를 연구하던 중 중성자의 특이한 성질을 발견했다. 과학자들은 전자와 양전자 빔을 충돌시키고 물질 입자와 반물질의 상호 작용의 결과로 주기적으로 발생하는 중성자와 반중성자 쌍의 형성을 관찰했습니다. 중성자와 그에 의해 생성된 반중성자의 속도, 에너지 및 운동 방향은 내부 구조에 따라 달라지며, 이는 물리학자들이 이러한 입자 내부의 쿼크 분포를 초정밀 측정하는 데 사용했습니다.

연구진은 수년간 전자와 양전자의 충돌을 관찰해 왔으며, 이를 통해 중성자 구조 측정 정확도를 기존 실험 대비 약 60배 향상시켰다. 데이터 품질의 향상은 물리학자들이 몇 년 전에 양성자의 구조를 연구할 때 이미 겪었던 기이한 현상을 드러냈습니다.

2013년에 BaBar 설치 작업을 하는 과학자들은 양성자 내부의 전하 분포 특성에 영향을 미치는 일부 변동이 양성자 내부에 있다는 증거를 발견했습니다. 이러한 진동의 존재는 쿼크의 상호작용을 설명하는 어떤 이론으로도 예측할 수 없기 때문에 이 현상의 정확한 특성은 여전히 물리학자들에게 미스터리입니다.

Yuan Changzheng과 그의 동료들이 발견한 것처럼 유사한 것이 중성자 내부에서 발생하고 그 내부의 진동은 양성자 내부의 대응물과 비교하여 위상이 반대인 것으로 밝혀졌습니다. 과학자들이 바라는 대로 BES-II 및 기타 입자 가속기에 대한 후속 실험은 이러한 진동의 특성을 밝히고 중성자와 양성자의 거동에서 어떤 역할을 할 수 있는지 이해하는 데 도움이 될 것입니다.

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