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라디오 전자 및 전기 공학의 백과사전 사운드 녹음을 위한 페라이트 자기 헤드 및 해당 애플리케이션의 기능. 무선 전자 및 전기 공학 백과사전
기사의 첫 번째 부분에서는 CIS에서 상업적으로 생산되는 페라이트 자기 헤드의 설계가 고려됩니다. 해당 매개 변수가 표시되고 응용 프로그램 기능이 표시됩니다. 다음 부분에서는 헤드의 제조 기술을 설명하고 헤드의 매개변수를 측정하는 추가 방법과 이러한 헤드로 테이프 레코더를 조정하기 위한 권장 사항을 제공합니다. 이 정보는 라디오 아마추어 및 자기 녹음 장비의 수리 및 설계와 관련된 전문가에게 유용할 것입니다. 카세트 레코더 지배의 시대는 아마도 끝이 나고 있습니다. 그러나 경제적 고려 사항과 인구 중 소형 카세트에 수많은 음반이 존재한다는 점을 고려할 때 우리나라에서는 그것이 지속될 것이며 카세트 레코더는 적어도 15-20 년 동안 소유자에게 서비스를 제공 할 것이라고 가정 할 수 있습니다. 사운드 녹음을 위한 자기 헤드(MG)에 관한 간행물은 이미 "라디오" 페이지에 게재되었습니다[1, 2]. 그러나 불행히도 특히 페라이트 MG에 대한 정보는 분명히 충분하지 않습니다. 지난 3,4,5년 동안 [1,2]에 나타난 페라이트 헤드에 대한 몇 가지 재료만 기억할 수 있습니다. 더욱이 일부 재료[XNUMX, XNUMX]는 사용에 심각한 문제를 일으키는 부정확성을 포함합니다. 저자는 현재 생산되는 페라이트 MG에 대한 보다 완전한 정보를 제공하고 카세트 레코더에서 사용되는 기능에 대해 이야기하려고 노력했습니다. "메탈" MG의 일반적인 이름이 다른 재료(퍼멀로이, 센더스트, 비정질 합금)로 만들어진 헤드를 의미하고 "페라이트"(또는 "유리 페라이트") MG라는 이름이 다른 제조 기술을 가진 다른 재료로 만들어진 헤드를 의미하는 것처럼, 필수적인 것은 매개 변수 및 성능 속성에 영향을 미칩니다. 국산 MG의 경우 MG 심볼의 점 뒤 두 자리 숫자(Modification Number)에 소재 및 제조 기술에 대한 정보가 포함되어 있습니다. 특정 기술 및 재료는 수정 번호의 특정 영역에 해당합니다. 이것은 70년대에 표준화되었고 드문 경우를 제외하고 현재 시행되고 있습니다.(표 1) 외국 회사는 다양한(종종 폐쇄된) 회사 내부 표준에 따라 헤드를 표시하므로 필요한 정보를 추출하는 것은 사실상 불가능합니다. 외국 MG 지정.
페라이트 MG의 가장 확실한 장점인 내구성은 작업 표면의 재질에 따라 결정됩니다. 다결정 및 단결정 구조의 페라이트가 있습니다. MG 제조에 사용되는 다결정 페라이트는 열간 압축 기술(HPC) 또는 등압 압축(IPF) 또는 "Oxostat" 기술을 통해 얻습니다. 등압 프레스의 경우 프레스 분말의 압축이 모든 면에서 고르게 발생하는 반면 열간 프레스의 경우 한 방향으로만 압축됩니다. 결과적으로 GPF 등급 10000 MT-1의 기공률은 0,5%를 초과하지 않으며, 등급 10000 MT-2(IPF)의 기공률은 0,1%를 초과하지 않으며, M1500NMZ 페라이트([1])의 기공률은 최대 5% 이상. 재료의 다공성은 MG 자체의 마모를 결정하는 것이 아닙니다. 그러나 더 중요한 것은 자기 테이프(ML)의 작업 층 마모입니다. 다공성이 최대 205 % 인 일반 페라이트로 만든 지우기 헤드 ( "Or-bita-20"와 같은 테이프 레코더의 경우)의 작업 표면은 실제로 "강판 *, 작업 층을 무자비하게 벗겨냅니다. ML(테이프 드라이브 메커니즘의 분말 슬라이드를 기억하십시오.) MG 유형 6S24.710에서만 ML의 낮은 마모를 보장하는 BFA가 사용됩니다([1]에서 재료가 뜨거운 누르면). 단결정 페라이트(MCF)는 Verneuil, Czochralski 또는 Bridgman 방법을 사용하여 인공 루비 및 사파이어를 성장시키는 기술을 사용하여 얻습니다. 처음 두 방법은 생산성이 더 높지만 결정 품질이 낮기 때문에 Bridgman 방법이 더 자주 사용됩니다[6, 7]. 냉각과 함께 무게가 8kg 인 결정체 (소위 "boule")를 키우는 데 약 20 일이 걸립니다. 단결정은 이방성 물질이며 MG 제조 시 결정학적 축을 따라 배향되어야 합니다. HPF 또는 IPF로 만든 작업 표면과 단결정의 마모 특성은 매우 다릅니다. 헤드의 작업 표면은 ML의 마모성, ML에 대한 접착(고착), 마찰 기원의 열 및 정전기 효과(특히 고속 재작성 장치에서), 작업 층의 미세 내포물로 인한 영향의 영향을 받습니다. ML의 (국내 및 착용 외국 ML에 대한 일반). 가장 부드러운 헤드 인 퍼멀로이 헤드가 작업 표면의 모양 ( "톱질")의 변화로 인해 실패하면 sendastoye 헤드는 가장자리의 선형성 손실로 인해 접착 작용으로 틈을 덮습니다 (그림. 1) 그런 다음 HPF (더 큰 정도) 또는 IPF (더 적은 정도)의 헤드는 침식, 다결정 입자의 칩핑으로 인해 마모됩니다. HPF의 입자 크기는 15..,30 µm이고 IPF는 10...15 µm입니다. 침식은 정전기력, 온도 미세 응력 및 미세 내포물이 가장 약한 영역인 결정립계에 미치는 영향으로 인해 발생합니다. 10..30 µm 너비의 "구덩이"가 작업 간격에 형성됩니다. 단일 치핑은 빠르게 거대한 치핑으로 바뀌고 헤드가 실패합니다. 60...80 µm의 간격 깊이로 이러한 헤드의 복원이 어렵습니다. 또한 "움푹 들어간 곳"의 가장자리가 테이프의 작업 층을 긁어 소음 수준이 증가합니다.
HPF 및 IPF에 기반한 헤드와 달리 MCF로 만든 헤드의 마모는 본질적으로 주로 연마성이 있으며 침식(즉, 재료 입자의 찢어짐)은 거의 관찰되지 않습니다. 첫째, 갭을 채우는 더 부드러운 유리가 마모되고 그 결과 딤플이 갭의 가장자리를 노출한 다음 가장자리의 "막힘"이 발생하여 갭의 유효 폭이 점진적으로 확장됩니다. ICF 기반 헤드는 헤드 자체가 심하게 마모된 경우에도 자기 테이프의 거울면을 유지하는 것이 중요합니다. 그건 그렇고, 10 또는 3,81mm 너비로 자른 연마 테이프 (6,3 미크론 입자가있는 전기 코런덤)를 실행하여 테이프 레코더에서 제거하지 않고도 ICF 헤드의 적당한 마모 결과를 쉽게 제거 할 수 있습니다. 이러한 테이프는 많은 공장(St. Petersburg - LOMO, Magneton 공장)에서 생산됩니다. 실행 시간 - 1...2분 연마하는 동안 두께가 2...4미크론에 불과한 레이어가 제거되어 MG의 매개변수를 완전히 복원합니다(연마하는 동안 주파수 응답은 완전히 복원될 때까지 30초마다 모니터링됨). 덕분에 MKF의 MG는 40...60 µm의 간격 깊이로 생산될 수 있습니다. 연마 테이프를 실행한 후 표면을 마무리하기 위해 마모성이 증가된 저가 테이프(Sound Breeze 또는 TASMA MK 60-7)에서 몇 시간 동안 테이프 레코더를 구동하는 것이 좋습니다. 테이프 레코더가 하루 2시간 동안 작동될 때 Permalloy 헤드는 1,5 ~ 2년 후에, Saint-Dust 헤드는 2 ~ 2,5년 후에 고장난다는 것은 잘 알려져 있습니다. 비교를 위해: IFF의 MG는 2...4년 동안 사용되며 더욱이 쉽게 복원됩니다. 고속 다시 쓰기 장치에서 서비스 수명은 더 빨리 고장나는 GPF 또는 IPF의 MG(특히 기록 헤드)를 제외하고 속도 및 일일 작동 시간의 증가에 비례하여 감소합니다. 예상치 못한 기능: IEC II(CrOg) 테이프가 있는 MKF 헤드는 일반적으로 IEC I(y-Fe6O10) 테이프보다 수명이 깁니다. 무화과. 그림 2는 3시간 작동 후 GPF 2 MT-24.712에서 헤드 샘플 ZD10000의 갭 파괴 특성을 보여줍니다. 1 - 1000시간 작동 후 MKF에서 헤드 클리어런스 3V6. 근처(아래)에는 침식으로 부식된 HPF로 만들어진 채널간 스크린이 보입니다.
헤드의 전자기 매개변수는 표에 나와 있습니다. 2. 헤드 ZD24.012(PO EVT, Penza) 및 6A24.510 및 6V24.510(예레반)의 경우 여권 데이터가 제공되고 나머지는 많은 수의 헤드에서 측정된 실제 데이터입니다. 측정 조건은 [8]에 따라 주어진다. 션트 계수 Ksh는 자기 헤드의 손실을 특성화하고 공식으로 계산됩니다. 여기서 E는 실제 헤드의 기전력(EMF), mV입니다. 종료 - 손실 없는 헤드의 EMF, mV. 일반적으로 끝 \u2d 0p f F103 h W XNUMX. 여기서 f는 측정 주파수, Hz입니다. Ф0는 [1]에 따른 트랙 폭 9m당 단락 자속의 유효 값, Wb/m입니다. h - 트랙 너비, m; W는 회전 수입니다. 값을 대입하면 f=315Hz, Ф0 = 250nWb/m, h = 0,6mm, W = 1000회전에서 카세트 테이프 레코더에 대해 얻습니다. 끝 = 2,97 10-4V; h = 0,94mm인 릴투릴 테이프 레코더용 끝 = 4,6 5-10-4B. 무손실 헤드 Dpnd dB의 진폭-주파수 재생 응답(AFC)은 다음 공식으로 계산됩니다. Dpnd = 20lg(fmeas Jf) + Nmeas 여기서 fmeas - 주파수 응답 측정의 공칭 주파수, Hz(상위 주파수); f - 315Hz와 동일한 기준 주파수; Nmeas는 [9]에 따른 공칭 측정 주파수에서의 상대 기록 레벨입니다. DB 테이블에서. 2는 지우개 헤드(HS)에 대한 데이터를 제공하지 않습니다. 이는 릴 투 릴 테이프 레코더의 HS 매개 변수가 [1]에 나와 있고 카세트 레코더의 국내 HS는 압축 페라이트로 만들어져 테이프를 무자비하게 벗겨 내기 때문에 관심이 없기 때문입니다. . 또한 이러한 헤드는 IEC IV("금속") 테이프와 함께 작동하지 않습니다. 이러한 테이프의 고품질 감자는 별도 기사의 주제입니다. 값싼 외국 장치에 사용되는 특수한 종류의 지우개 헤드가 있습니다. 영구 자석이있는 헤드입니다. 고 보자력 페라이트로 만든 코어는 특수한 법칙에 따라 자화되어 부호 교번 낙하 자기장을 얻습니다. 극의 수는 402에서 331 이상입니다. 지우기 품질이 높지 않습니다. 노이즈가 증가하고 비선형 왜곡이 발생합니다. 우리는 테이프 레코더 "Electronics-XNUMXC", "Electronics XNUMXC"및 그 수정 (Zelenograd 및 Voronezh에서 제조)에서 이러한 헤드를 사용합니다. 녹음 및 재생용 헤드의 경우 Magneton 공장(St. Petersburg)은 GPF 또는 IPF 모두에서 자기 회로를 사용하여 헤드를 생산하여 인덱스 "P"를 할당하고 IFF에서 인덱스 "M"을 할당했습니다. 80년대 중반부터 테스트 결과에 따르면 헤드는 IFF에서만 생산되었습니다. PO EVT(Penza)는 GPF 10000 MT-1(Magneton 공장에서 생산한 페라이트)에서 헤드를 생산했습니다. Yerevan 공장은 자체 제조한 HPF에서 헤드를 생산합니다. 해외에서 우리 시장에 들어오는 페라이트 헤드는 거의 모두 하이엔드(Hitachi, Sony, JVC)로 간주되는 것조차 HPF 또는 기껏해야 IPF로 만들어집니다.
페라이트 헤드(표 2)는 두 가지 설계 체계(그림 4,5)에 따라 제조됩니다. "P"형 및 선형 접촉기가 있습니다. 첫 번째 디자인은 더 많은 양의 재자화 가능한 재료를 가지고 있어 기록 수준이 낮은 신호("페라이트 사운드")의 재생에서 비선형성이 증가하지만 회전 수가 많은 권선을 배치할 수 있습니다. 릴 투 릴 테이프 레코더의 헤드에 사용됩니다.
두 번째 디자인(그림 5)은 재생 중에 좋은 선형성을 제공하지만 회전 수는 와인딩 창의 크기와 MG의 외부 치수에 의해 제한됩니다.
한때 그러한 건설적인 계획으로는 MG의 수용 가능한 EMF 값을 얻는 것이 불가능하다고 믿었습니다. 그러나 저자가 세련된 방법에 따라 수행한 자기 회로의 상세한 계산은 이러한 방식에 따른 MG가 경쟁력 있는 설계 매개변수 영역을 드러냈습니다. 이것은 재생 중에 "페라이트 사운드"가 없다는 점에서 구별되는 카세트 테이프 레코더용 페라이트 MG를 처음으로 만드는 것을 가능하게 했습니다. 일반적으로 6채널 카세트 헤드의 제조 기술은 다음과 같습니다. - 작업 간격의 필요한 너비에 따라 이른바 정규화된 두께 제한기가 세미 블록에 분사됩니다(그림 XNUMX).
다음으로 세미 블록은 유리로 납땜됩니다. 리미터에 의해 형성된 틈에서 유리는 모세관을 흐릅니다. 그런 다음 1,55mm 크기의 블록(두 채널의 너비)을 납땜된 공작물에서 잘라내고 각 블록에서 채널 간 스크린용 홈을 절단하고(그림 7) 채널 간 스크린을 접착하고 점퍼를 접지합니다. 꺼짐(그림 8, 9).
작업 표면을 형성하는 요소의 접착을 마친 공작물은 10 ... 40 미크론의 간격 깊이를 유지하면서 반경을 따라 연마됩니다 (그림 60). 분류 후 틈이 있는 폴 피스를 조립할 수 있습니다.
이러한 힘든 기술의 장점은 스테레오 헤드 유닛의 간격의 평행도와 동축도가 자동으로 제공된다는 것입니다. 더 간단한 방법은 "요소별" 조립입니다. 채널 헤드, 스크린 및 기타 요소를 개별적으로 만든 다음 "스택"에서 유리와 함께 접착하거나 납땜합니다. 그러나 그들이 말하는 것처럼 그러한 단순성은 "옆으로 간다": 간격의 정렬과 평행을 유지하는 것은 거의 불가능합니다. 이 기술을 사용하여 헤드는 Penza PO EVT, 특히 ZD24.012에서 생산되었습니다. MKF 헤드의 주요 적용 분야:
물론 극단도 가능합니다. MG 유형 BRG ZD24.751.M (헝가리) 대신 매우 낮은 등급의 테이프 레코더 (Melodiya-106 라디오 테이프 레코더)에 ZD24 헤드를 설치하면 완전히 변형되었습니다. 소리 ( "모르겠어요!"라고 말함). 또한 표에 주어진 헤드를 염두에 두어야 합니다. 2, ML M3KIV("금속")에 쓰지 마십시오. 비용을 계산할 때 MKF의 헤드 하나는 센더스트의 내구성 측면에서 24.750개와 같다고 가정할 수 있습니다(이 기간은 테이프 레코더의 완전한 마모로 제한됨). 공장에서 구입하는 경우 ZD20 헤드 24개의 비용은 구입처(Magneton 공장의 영업 부서 또는 공장 매장)에 따라 XNUMX~XNUMX루블입니다. 시장에서는 여기에 딜러가 추가됩니다. 페라이트 헤드가 있는 테이프 레코더를 튜닝할 때 사용된 재료의 특성과 관련된 기능이 나타납니다. 예를 들어 바이어스 전류는 금속 헤드의 바이어스 전류보다 2 ~ 2,5배 적고 고품질 요소는 급격한 영향을 미칩니다. 튜닝 과정에서 공진 현상의 MG 제조에 사용되는 페라이트의 매개 변수는 표에 나와 있습니다. 3. 비교를 위해 일부 자성 합금의 매개변수가 제공됩니다(다른 재료의 경우 [10, 11] 참조).
MG를 설치하기 전에 인덕턴스 Lmg, 자체 커패시턴스 Cmg 및 품질 계수 Qmg를 결정하는 것이 바람직합니다. 이전에는 MG 여권의 제조업체가 기록 및 바이어스 전류뿐만 아니라 Lmg, EMF의 개별 값을 제공했습니다. 이제 여권에는 머리의 상당한 비용이 주어지면 당혹 스러울뿐입니다. 전류 값을 표에서 평균적으로 가져올 수 있다면. 2, 인덕턴스는 더 정확하게 결정될 필요가 있습니다. Lmg, Smg를 측정하기 위해 다음과 같은 방법을 권장할 수 있습니다. 측정 방식은 Fig. 열하나.
자기 헤드 Lmg의 인덕턴스는 총 커패시턴스 Cmg + Spar + Cdop를 갖는 진동 회로를 형성하며, 여기서 Cmg는 헤드 자체 커패시턴스 Spar - 장착 용량이다. Sdop - 추가 용량. 측정을 위해서는 4% 이하의 정확도로 알려진 5~5pF의 80~5Cdop 값을 갖는 것이 바람직하며 이는 측정 정확도에 직접적인 영향을 미칩니다. R1 및 R2의 허용 오차, 밀리볼트미터의 입력 커패시턴스 및 입력 저항은 중요하지 않습니다. 적절한 소형 커넥터(예: RG35-ZM 등)의 소켓을 사용하여 MG에 연결하는 것이 가장 좋습니다. MG와 결론 R1, Sdop에 연결하는 와이어는 Spar를 줄이기 위해 최소 길이를 가져야 합니다. 발전기 주파수 설정에 필요한 오류는 1 ~ 2%이고 20 ~ 200kHz 범위의 출력 전압은 최소 3V입니다. 밀리볼트미터의 필수 감도는 3mV입니다. 작은 값부터 시작하여 다른 등급의 커패시터 Cdop를 차례로 연결하면 발전기 주파수가 변경될 때 회로의 공진 주파수가 최소 밀리볼트미터 판독값에 따라 계산됩니다. 잘 알려진 공식을 변환하면 다음을 얻습니다. CΣ=(2,53/Lmg)x104/f2res. 어디서? СΣ - 총 커패시턴스, pF; Lmg - 인덕턴스, H(이 주파수 범위의 페라이트 헤드의 경우 값이 거의 일정함) fpez - 공진 주파수, kHz. 여기에서 CΣ와 1/f2pez 사이에 선형 관계가 있으며 이는 Cm을 결정하는 데 사용할 수 있습니다. 이는 다음과 같이 수행됩니다[12].
가로축과 교차할 때까지 얻은 점을 따라 직선이 그려집니다. 교차점과 값(Smg + Spar)을 제공합니다. R1, Сdop 및 MG 사이의 연결 길이가 2cm 미만인 경우 커패시턴스 Сpar는 2pF와 같을 수 있습니다. 위의 예에서 (Smg + Cpar) = 13pF. 여기에서 우리는 Lmg \u2,53d 04 / (Smg + Spar) x 2 / f2,53res. = 13/0,485x0,0944 = XNUMX H; Smg \u13d 2-11 \uXNUMXd XNUMXpF. ZD24.750 - ZD24.752 유형의 다양한 헤드 표본에 대한 Cmg의 측정 값은 7 ... 20 pF 내에 있습니다. 이 커패시턴스는 채널마다 다르며 MG의 하나 또는 다른 출력에 대한 공통 와이어의 연결에 따라 다릅니다. 금속 헤드의 경우 고유 커패시턴스와 인덕턴스를 결정하는 이 방법은 품질 계수가 낮고 결과적으로 인덕턴스의 강한 주파수 의존성 때문에 적합하지 않습니다. 아마추어 조건에서 정확한 Qmg 측정은 어렵습니다. 일반적인 경우 회로 Q의 품질 계수는 공진 곡선에서 결정됩니다([12] 참조). Q=fres/(fmax - fmin) 여기서 f는 공진 주파수, kHz입니다. fmin 및 fmax - 회로의 전압이 0,707Umax, kHz 수준으로 떨어지는 주파수. 측정 정확도는 측정 장비의 입력 임피던스, 판독 정확도 0,707Umax 및 주파수 fres fmin 및 fmax에 의한 회로 단락 정도에 따라 달라집니다. Q = 5...20에서 최대 40%의 오차가 있는 측정의 경우 분로 저항이 최소 10MΩ이어야 하며 fpez, fmin, fmax 0,707Umax 값을 오차와 함께 측정해야 합니다. 0,2% 이하. 그림의 다이어그램에 따르면 11에서 션트 저항은 대략 R1과 같으며 Q가 50 ... 70% 감소합니다. 입력 임피던스가 큰 전계 효과 트랜지스터를 사용하면 정전기로부터 보호하기 위한 조치를 취해야 합니다(지면에 대한 작업자 손의 전압의 정적 전위는 20kV에 도달할 수 있습니다!). 실제 작업에서는 표에 제공된 측정 데이터에 집중할 수 있습니다. 5.
측정은 상위 사운드 주파수 범위와 바이어스 전류의 주파수 범위 모두에서 수행되었습니다. 측정 오차는 약 5%입니다. 저손실 커패시터가 측정에 사용되었으며 Cmg 및 Cpar는 각각 15pF 및 6pF의 큰 허용 오차로 취해졌습니다. 이 가정과 계산 오류로 인해 앞서 주어진 공식을 사용하여 계산된 인덕턴스 Lmg 값이 퍼졌습니다. 병렬 발진 회로 Rres의 공진 저항과 능동 손실 저항 Rs는 다음 공식으로 계산되었습니다. [12]:
여기서 Rres - 공진 저항, MΩ; Lmg - 헤드 인덕턴스, H; CΣ - 총 커패시턴스, pF; Rs - 활성 손실 저항, 옴. 더 자세히 이해하고 싶은 분들은 [13]을 추천합니다. 얻은 데이터의 분석은 다음을 보여줍니다. 품질 계수는 MG 간격이 넓고 СΣ가 증가함에 따라 감소하며 상위 사운드 주파수 영역에서 매우 높게 유지됩니다(수십 단위). 바이어스 전류 주파수에서 페라이트 헤드의 품질 계수도 상당히 큽니다(금속 MG에서는 24.211 미만이므로 측정할 수 없음). 동시에 Rpez는 주파수 fpez가 기록 모드에서 바이어스 전류의 주파수와 일치하면 일반적인 공급 방식으로 공칭 바이어스 전류를 설정할 수 없게 됩니다("무자비한" 것으로 판명됨) 힘"). 페라이트 MG의 Rs는 예를 들어 ZD200("Mayak") 유형과 같은 금속 MG의 Rs보다 훨씬 적습니다. 이것은 페라이트 헤드에서 상당히 낮은 수준의 열 잡음을 설명합니다. 매개변수를 최적화하고 페라이트 헤드가 있는 테이프 레코더를 조정하는 특정 문제로 전환하기 전에 자기 녹음 기술에 채택된 몇 가지 용어와 조항을 상기할 필요가 있습니다. 315Hz(이전, 01.07.88/400/8 이전, 공칭 주파수 - 14Hz)로 채택된 기준 주파수를 사용하면 측정 결과를 비교할 수 있습니다[XNUMX]. 이 주파수에서 헤드의 EMF는 재생 중에 측정되며 주파수 응답도 이 주파수와 관련하여 측정됩니다. 이를 위해 IEC(International Electrotechnical Commission)의 권장 사항에 따라 기록된 신호 그램이 사용됩니다. 이 신호도 N, dB의 단락 자속의 주파수 응답은 공식[XNUMX]으로 계산됩니다.
어디서 f - 주파수, Hz; τ1, τ2 - 시간 상수, s. 상대 단락 자속 기록 레벨은 N(f)와 N(315Hz)의 차이로 계산되며, 여기서 315Hz는 기준 주파수입니다. 상대 녹음 레벨의 수치는 [9]에 주어진다. 이 값은 헤드의 무손실 0Rid를 계산하는 데 사용됩니다. 테이블에서. 도 6은 상대 기록 레벨(기준 주파수 315Hz, τ2 = 3180μs, τ1 = 70 및 120μs)의 계산된 값을 보여준다.
재생 채널의 주파수 보정, 즉 재생 헤드 앰프(HC)의 경로는 주어진 주파수 범위에서 고르지 않은 주파수 응답에 대한 요구 사항이 충족되도록 해야 합니다. 따라서, 15년대에 Heegard가 제안한 주파수 응답 N(f)의 의존성의 표준화는 재생 채널의 주파수 응답의 표준화로 이어진다. 녹음 채널과 재생 채널 사이의 사전 왜곡 분포의 선택은 [1]에 기술된 바와 같이 "기존 테이프로 얻을 수 있는 녹음된 음반의 잔류 자기 플럭스의 주파수 응답을 기반으로 하며 합리적인 양입니다. 녹음 증폭기의 전치 왜곡." 한편으로는 기록을 교환할 수 있지만 다른 한편으로는 새로운 "비표준" 자기 테이프의 개발 및 사용을 방해합니다. 여기서 τ2 및 τXNUMX의 특정 값을 선택한 이유는 고려하지 않습니다. 테이블에서. 도 6은 무손실 헤드의 Drid 주파수 응답 값을 나타내고, 도 13은 무손실 헤드의 주파수 응답 값을 나타낸다. 그림 24.752은 ZD1(τ120 = 24.751μs), ZD24.750 및 ZD1(τ70 = XNUMXμs) 유형 헤드의 주파수 응답과 함께 그 보기를 보여줍니다.
헤드 작업 표면의 청결도가 높기 때문에 접촉 손실이 적습니다. 그건 그렇고, MG 표면의 "미끄러움"으로 인해 실제로 더러워지지 않으며 자주 청소할 필요가 없습니다. 단결정 페라이트의 높은 자기 특성은 재료의 푸코 전류 및 재자화에 대해 무시할 수 있는 손실을 제공합니다. 그럼에도 불구하고 실제 웨이브 특성의 과정은 고주파수 영역에서 상단이 약간 "평평해짐"과 보다 완만하게 감소하는 것으로 구별됩니다. 이는 [16]에서와 같이 간극의 쐐기 모양으로 설명할 수 있지만 간극 폭 측정에서는 이를 나타내지 않았습니다(측정 정확도 내에서). 이에 대한 가장 가능성 있는 설명은 코어로의 유리 확산으로 인해 갭 영역에서 재료의 자기 투자율의 변화입니다(폭이 다른 여러 갭의 병렬 작동으로 나타낼 수 있음). 저주파 영역의 주파수 응답은 Drid보다 약 1dB 위에 있으며 그림에서 볼 수 있습니다. 13은 상세하지 않습니다. 재생 채널의 블록 다이어그램은 그림 14에 나와 있습니다. 십사.
재생 증폭기는 이상적인 헤드 Drid의 주파수 응답과 반대의 주파수 응답을 가지며(그림 13 참조), 상위 가청 주파수에서의 주파수 응답 보정은 일반적으로 다음과 같이 형성된 직렬 회로의 공진으로 인해 수행됩니다. 인덕턴스 Lmg 및 Smg로 구성된 총 커패시턴스, 마운팅 커패시턴스 Spar. 증폭기의 입력 커패시턴스 Svh 및 추가 커패시턴스 Cdop. 총 커패시턴스의 전압, 즉 SW 입력에서 이러한 회로의 경우 공진 주파수에서 Q 계수만큼 증가합니다. 여기서 Q는 회로의 품질 계수입니다. 공진을 고려하지 않은 신호 레벨에서 공진 주파수의 주파수 응답 상승은 20lgQ, dB입니다. Rin 및 Rsh의 분로 작용으로 인해 품질 계수가 감소합니다. 총 커패시턴스의 손실을 고려하지 않은 Rin의 영향은 공식에 의해 충분한 정확도로 추정할 수 있습니다. Qsh=Q Rin/(Rres+Rin) 여기서 Q는 MG의 초기 품질 요소입니다(표 5 참조). Rin - 입력 저항 SW, kOhm; Rres - 공진 저항(표 5 참조), kOhm; Qsh - 분류된 회로의 품질 계수. 따라서 Q = 15, Rres = 150kOhm, Rin = = 100kOhm에서 Qsh = 6을 얻습니다. 즉, 주파수 응답이 15,6dB 상승합니다. Rin \u1000d 13kOhm에서 Qsh \u22,3d 6(주파수 응답 10dB 상승). ICF의 MG 표면 품질이 높기 때문에 주파수 응답에서 실제로 필요한 상승은 Qsh = 2...3에 해당하는 XNUMX~XNUMXdB에 불과합니다. 공식을 사용하여 원하는 품질 계수를 얻는 데 필요한 대략적인 Rsh 값을 계산할 수 있습니다. 1/Rsh=(Q-Qsh)/(QshRres)-1/린, 여기서 Rsh - 션트 저항, kOhm; Qsh - 션트 회로의 필수 품질 요소. Rres - 표에 따른 저항. 5, 옴; Rin - 증폭기의 입력 임피던스, kOhm; 따라서 Qsh = 3(주파수 응답의 증폭은 10dB 이하)의 경우 Q = 15, Rres = 150kOhm, Rin = 100kOhm, Rsh = 60kOhm; Rin = = 1000kOhm - Rsh = 39kOhm의 경우. 페라이트 MG를 사용하는 것이 권장되는 솔루션에서 두 가지 작업을 구분할 수 있습니다.
마지막 작업은 자체 잡음이 -65...-70dB보다 나쁘지 않고 혼변조 왜곡이 낮은 "호환 가능한" 재생 증폭기를 개발하는 것입니다. SW는 high-Q MG와 안정적으로 작동해야 합니다(대부분의 기존 SW는 Rsh가 없을 때 흥분됨). 또한, 재작성에는 1300배의 속도로 동작할 수 있는 요건이 있다. 이렇게 하려면 Lmg = 630 mH(상위 주파수 100 ... 14 kHz)에서 총 정전 용량 값을 20 ... 320 pF에서 160 ... 28 pF(배속 40 ... 11 kHz에서 상위 주파수로 변경해야 합니다. ). Cm = 20pF, Spar = 40...XNUMXpF이면 SW의 큰 입력 커패시턴스로 XNUMX배 속도에서 좋은 품질을 얻는 것이 불가능해집니다. 총 커패시턴스를 변경하는 방법은 두 가지입니다.
재생 채널의 주파수 응답에 필요한 불균일성에 대한 요구 사항을 기반으로 다양한 유형의 생산된 페라이트 MG에 대한 상위 주파수 fepx를 결정하겠습니다. 고주파에서 보정하지 않은 세 가지 유형의 MG에 대한 재생 채널의 일반적인 주파수 응답이 그림 15에 나와 있습니다. XNUMX.
이러한 주파수 응답은 MG ZD24.750 - ZD24.752의 데이터에서 얻은 것입니다(그림 13 참조). 서로 다른 주파수 응답 감소에서 이러한 곡선에 입력 회로의 공진 곡선을 중첩함으로써 보정 없이 주파수 응답 감소가 다음을 초과하지 않는 주파수를 취하면 전체 주파수 응답의 허용 가능한 불균일성을 얻을 수 있습니다. fvepx의 경우 10dB입니다. 3D24.752fvepx = 14...16kHz의 경우, ZD24.751의 경우 fbepx = 16...18kHz, ZD24.750의 경우 fbepx = 18...20kHz입니다. 그림 15는 Qsh가 10, 20 및 10인 3kHz 주파수에서 -2dB 레벨의 공진 곡선과 재생 채널의 전체 주파수 응답 보기를 보여줍니다. 알 수 있듯이 MG ZD24.750에 대한 고주파수의 최적 보정은 2와 XNUMX 사이의 Qsh 값에서 발생합니다. 따라서 테이프 레코더에 페라이트 MG를 장착할 때 SW에 고주파 보정 조정(표준 시정수 τ1 및 τ2 형성 제외) 및/또는 포지티브 피드백 회로가 있으면 입력 회로[17]의 경우 조정을 최소화해야 합니다. 그런 다음 MG와 병렬로 공칭 값이 80 ... 100kOhm 인 소형 튜닝 저항을 Rsh로 연결하고 최대 값을 설정하고 SW에서 사용 가능한 션트 저항을 꺼야합니다. MG를 설치할 때 일반적으로 확인되는 기울기(방위각), 머리의 중심 및 "끄덕임" 외에도 MG가 카세트에 들어가는 깊이를 확인해야 합니다. 작업 표면에 테이프를 과도하게 누르기 때문에 MG의 마모가 증가하는 것 외에도 특히 작업 표면이 리더 코드를 접착하는 데 사용되는 접착 테이프의 접착제 흔적으로 오염된 경우 마찰 "휘파람"이 발생합니다. 헤드가 카세트에 들어가는 곳에 컷 아웃이있는 상단 덮개의 카세트를 사용하여 확인하는 것이 더 편리합니다. 작업 표면과 자기 테이프의 접촉 영역은 간격에 대해 대칭으로 3,5~4,5mm 내에 있어야 합니다. 소자의 전원을 켰을 때 SW가 여기되면 여기가 사라질 때까지 Rsh 값을 줄여야 한다. 상위 주파수는 특정 유형의 MG의 fBepx와 같거나 테이프 레코더가 자기 테이프 움직임의 방위각에 필요한 안정성을 제공하지 않거나 SW가 상위 주파수에 제한이 있는 경우 낮아집니다. 입력 회로는 Cdop을 선택하여 이 주파수로 조정됩니다. MKF로 만든 헤드의 높은 내마모성(3시간당 1000미크론 마모)으로 인해 작동 중 조정이 필요하지 않습니다. 공진 주파수는 [9]에 따라 셰이퍼 상의 코일을 사용하여 신호의 자기장이 MG의 간극에 인가될 때 SW의 최대 출력 신호에 의해 결정됩니다. 이러한 프레임의 프레임 크기는 8x75x3mm이고 회전 수는 PEV 20 와이어에서 5 ± 0,2입니다. 생성기의 신호는 100ohm 제한 저항을 통해 공급됩니다. 이 방법은 테이프 레코더 보드에 원치 않는 납땜이 필요하지 않습니다. 갭 영역에서 MG의 작업 표면에 접착된 유연한 도체를 사용하여 갭에 자기장을 적용할 수도 있습니다(BF-6과 같은 알코올 용해성 접착제로 접착하는 것이 편리함). 주파수 메시지 팩으로 구성된 ZLIT1.4.4-120 유형 [9]의 측정 테이프 신호도를 사용하여 fvepx 및 재생 채널의 주파수 응답을 조정하는 것이 가장 편리합니다. 버스트 반복 속도는 18Hz이고, 하나의 주파수 버스트 지속 시간은 최소 3ms, 버스트 간 일시 중지는 1ms, 최대 주파수는 14kHz입니다. 공진 주파수는 해당 주파수 메시지의 최대 진폭으로 오실로스코프를 사용하여 결정됩니다. fvepx가 14kHz 이상이거나 그러한 측정 테이프가 없으면 개인용 컴퓨터를 사용하여 형성할 수 있습니다. 충분한 주파수 범위를 가진 잘 조정된 테이프 레코더를 사용하여 카세트에 녹음되는 필요한 여러 메시지가 메모리에 녹음됩니다. 소포의 지속 시간과 반복 빈도는 ZLIT.CH.4-120과 동일합니다. 주파수 버스트의 수는 최대 10개입니다. 샘플링 주파수가 44kHz인 경우 최대 주파수는 20kHz이고 샘플링 주파수는 54kHz - 최대 24~25kHz입니다. Magnolia JSC에서 제조한 ZLIM.UNCHK.4 유형의 테이프(약 $8 ... 10)도 적합하며 여기에는 필요한 모든 신호(주파수 응답, 폭발, 공칭 레벨, 균형 등을 확인하는 데 사용됨)가 있습니다. .). 입력 회로를 ftop으로 설정한 후 라인 출력에서 공칭 레벨을 설정하고 재생 모드에서 해당 표시기 판독값을 설정합니다. 이를 위해서는 공칭 레벨의 기준 주파수 신호도가 있는 측정 테이프가 필요합니다. 주파수 응답의 선형성은 조정된 저항 Rsh로 조정된 다음 일정한 저항으로 대체됩니다. 수제 측정 테이프를 사용하여 주파수 응답을 조정할 때 녹음 레벨이 -20dB인지 확인해야 합니다. 이를 위해 기준 테이프 레코더에 녹음할 때 입력 전압이 공칭에 비해 10배 감소합니다. 충분한 경험이 있으면 그림 16의 계획에 따라 측정 테이프 없이 주파수 응답을 조정할 수 있습니다. 15, 트레블 부스트를 일반적인 주파수 응답 롤오프와 동일하게 설정합니다(그림 5 참조). 표의 데이터에서 계산된 저항으로 Rsh를 설정하여 주파수 응답을 조정하는 것은 꽤 만족스럽게 가능합니다. Qsh의 경우 2 = 알려진 RBX의 경우 XNUMX입니다. 일반적으로 음악 백킹 트랙을 사용하여 "귀로" 튜닝하면 최고 주파수 신호가 중간 주파수 신호로 마스킹되고 녹음 품질 및 스펙트럼 균형의 차이로 인해 부정적인 결과가 나타납니다. 동시에 RBX는 예를 들어 보정 방법으로 쉽게 측정할 수 있습니다.
재생 채널의 비선형성 추정은 일반적으로 CF를 개발하거나 다른 재료의 MG를 비교할 때 필요합니다. 이러한 필요성이 발생하면 Twin-Ton-Test 차음법[18]을 사용하여 비선형성을 평가하는 것을 권장한다. 이 경우 주파수 비율이 1:1,06인 동일한 진폭의 두 테스트 신호가 입력에 적용됩니다. 상호 변조 곱의 진폭이 테스트 신호 진폭의 4,7%인 경우 이는 테스트 신호 중 하나에 대한 계수 K3 = 3%에 해당합니다. 좋은 소리를 얻기 위해서는 오랫동안 해외에서 실증되어 국내에서 최종적으로 인정[19]된 것처럼 0,003% 미만의 혼변조 왜곡 계수 Ki를 달성해야 합니다. 실제로 Ki의 정성적 평가는 앞에서 설명한 것처럼 테스트 신호의 자기장을 MG 갭에 적용하여 수행됩니다. 이 경우 fvepx에서 fvepx / 2까지의 신호 주파수를 0,5 ~ 1kHz의 차이로 선택하는 것이 편리합니다. 신호의 진폭은 SW의 선형 출력에서 0,003에서 공칭 레벨로 증가합니다. 이러한 조합을 음향적으로 들을 때 고품질 헤드폰에서 더 잘 들리면 다른 톤이 들리기 시작합니다. 이는 Ki가 18% 이상이 된다는 것을 의미합니다[19; XNUMX]. 보다 정확한 Ki 평가를 위해서는 스펙트럼 분석기가 필요합니다. 이미 언급한 바와 같이, 재자화 가능한 재료의 최소 부피, 보자력 Hc의 정규화 및 재료의 우수한 고주파 특성으로 인해 MCF 카세트 헤드는 재생 중 비선형성이 상당히 낮습니다. 최고의 퍼멀로이 헤드로. 그러나 IEC 유형 IV ML에 기록할 때 작업 간격 가장자리의 포화와 관련된 현상이 관찰됩니다. 이 효과를 연구한 결과는 [20]에 나와 있으며, 포화 유도 Bsat 값의 절반에 해당하는 값(가우스, G) 작업 간격의 가장자리가 포화됩니다. 결과적으로 기록 영역이 확장되고 손실이 증가하며 비선형 왜곡이 증가합니다. 보자력 Hc가있는 캐리어에서 파장 λ (μm)의 제한 신호 레벨로 기록하는 데 필요한 갭 폭 g (μm)의 갭 HG (Oe)에서 필요한 필드를 결정하기위한 실험식도 있습니다. Hc ( 이자형): HG \u1,7d (0,33 / g0,8 + 0,78VgXNUMX) x Hc. 또한 [20]에서는 이 값이 고주파수 바이어스로 녹음하기 위한 최적의 바이어스 전계 강도에 가깝다는 것을 보여주었습니다. 다양한 유형의 ML의 보자력 Hc는 한계 내에 있습니다[18].
따라서 간격 HG(E)의 필수 필드:
유형 I ML로 작업하려면 Vsat > 2900Gs(0,29T)의 재료가 필요합니다.
Vnas에 대해 얻은 값을 표의 데이터와 비교합니다. 3에서 우리는 페라이트 MG뿐만 아니라 금속 MG도 사용 가능한 모든 Type IV ML에서 과도한 왜곡 없이 기록을 보장하지 않는다는 결론을 내릴 수 있으며 Vnas > 160 T까지 요구됩니다. 페라이트 MG 설계가 있는데, 포화로부터 갭의 가장자리를 보호하기 위해 Vmax > 1,4 T 및 두께 2 ... 10 μm의 금속 합금 층이 내부 벽에 적용됩니다. 격차. 이들은 소위 "MIG" 헤드("Metal-ln-Gap" - 갭의 금속)입니다[21; 22]. 이러한 헤드는 비디오 기술에서 매우 널리 사용되지만 녹음 목적으로 우리 (및 외국) 산업은 아마도 유형 IV 테이프의 제한된 배포 (비용 증가 및 가장 중요한 것은 부족)로 인해 실제로 생산하지 않습니다. 장점을 실현하는 장치). g = 24.750μm인 상용 MG 유형 ZD1의 경우 유형 II ML에서 fbepx = 20kHz인 신호를 기록할 때 Vmax > 0,36T인 갭 영역에 코어 재료가 필요합니다. 충분한 마진(MCF Vmax = 3 ... 0,43 T에서 표 0,5에 따름). 따라서 ICF의 헤드에 적용되는 "페라이트 헤드...(기록 모드에서) 최고 수준의 비선형 왜곡을 제공한다"[2]라는 진술은 잘못된 것 같습니다. 직접 측정은 그 반대를 보여줍니다. 마지막으로 페라이트 MG를 설치할 때 녹음 증폭기를 설정하는 방법에 대해 설명합니다. 녹음 채널을 설정할 때 우선 바이어스 주파수 fsubm이 MG 인덕턴스 Lmg와 MG 자체 정전 용량으로 구성된 총 정전 용량 CΣ로 구성되는 회로의 공진 주파수 fpez보다 작은지 확인해야 합니다. , 발전기 및 증폭기(필터 튜브)의 출력 커패시턴스 및 장착 커패시턴스. fsubm < 0.8 fpez 또는 표에 따르면 바람직합니다. 5, fsubm < 84...96kHz. 앞에서 설명한 것처럼 커패시턴스 Cmg를 측정한 경우 fsubm 값에 대한 보다 정확한 한계를 얻을 수 있습니다. fsubm = fpez에서 회로 LmgCΣ는 필터 공진기로 작동하는 반면 Lmg 및 CΣ 값의 온도 변화는 바이어스 전류의 변화로 이어지며 그 값은 크게 과대 평가됩니다. fsubm>fpez이면 바이어스 전류는 CΣ에 의해 션트되며 저항이 아닌 트리머 커패시터에 의해 조정되면 발전기의 부하가 급격히 증가할 수 있습니다. 페라이트 MG의 바이어스 손실이 낮기 때문에 최적의 전류는 메탈 헤드(ceteris paribus)보다 2~3배 적습니다. 쓰기 전류는 적지만 크게는 아닙니다. 이것은 바이어스 전류를 설정(감소)하기 위한 정기적인 조정이 충분하지 않다는 사실로 이어집니다. 발전기 공급 전압을 줄이십시오 (더 나쁩니다). 바이어스 전류가 분리 커패시턴스를 통해 공급되면 이 커패시턴스와 헤드의 인덕턴스의 직렬 공진에 빠지지 않도록 감소해서는 안됩니다(직렬 저항을 넣는 것이 좋습니다). 고속 더빙 장치에 레코딩 MG ZA24.751 및 ZA44.171을 설치할 때 특히 주의해야 합니다. 주파수 fpodm이 ZA200의 경우 24.751kHz 이상, ZA500의 경우 44.171kHz 이상이면 공진 현상으로 인해 바이어스 전류 조정이 불가능할 수 있습니다. MG 유형 ZA44.171의 바이어스 전류를 설정할 때 인접 채널의 바이어스 침투로 인해 바이어스 전류를 줄이는 조정이 충분하지 않은 경우가 있습니다(주파수 500kHz에서 이 MG의 침투 수준 -30dB). 이 현상이 영향을 미치는 채널을 10kΩ 저항으로 분로하여 침투를 방지할 수 있습니다. 최적의 바이어스 전류를 설정하기 전에 작동할 주요 ML 유형을 선택하는 것이 좋습니다. 선택은 일반적으로 "가격-품질" 비율을 기준으로 이루어집니다. 일반적으로 각 사용자는 입증된 "익숙한" 유형의 ML을 가지고 있지만 새로운 내구성 MG를 설치할 때 데이터 [23, 24, 25]에 따라 다른 유형을 사용할 수 있습니다. 경험상, 특히 주파수 특성, 왜곡 및 사운드의 "투명도"와 관련하여 좋은 결과는 그다지 잘 알려지지 않은 한국 회사인 Sunkuong Magnetics Corp에서 생산한 테이프에 의해 나타납니다. (상표 SKC). 이미 언급했듯이 MG의 개별 여권 초기에는 일반적인 ML-R723DG (IEC I) 및 S4592A (IEC II)에 대해 얻은 기록 및 바이어스 전류 값이 제공되었습니다. 이러한 데이터를 기반으로 재계산[23, 24]을 통해 선택한 유형의 ML에 대한 전류를 결정할 수 있었습니다. 이제 이 데이터를 사용할 수 없습니다. 최적의 전류 Ipodm 설정은 조정 영역을 결정하고 필요한 경우 추가 저항을 설정하는 것으로 시작됩니다. 이를 위해 Isubm을 감소시켜 주파수 6,3kHz의 신호가 최대 레벨로 기록되는 지점을 찾습니다. 그런 다음 이 전류를 증가시키면 레벨이 1...3dB 감소합니다. 최적의 전류는 선택한 유형의 ML의 최소 노이즈 또는 315Hz의 주파수로 톤을 녹음할 때 최소 비선형 왜곡으로 설정됩니다. 이 값은 일반적으로 가깝습니다. 최종 설정은 테이프 레코더의 기능에 따라 다릅니다. SW(τ1 = 120μs에서)에 -54...-57dB보다 나쁜 잡음이 있는 경우(아아, 그러한 SW가 많이 있음) 최소 ML 잡음으로 조정하는 것은 어렵습니다. [18]에 설명된 방법을 사용하여 선택적 전압계 없이 최소 왜곡에 대한 조정을 수행할 수 있습니다. 고조파 왜곡은 기준 주파수 신호가 직선(dB 단위의 로그 스케일)에서 기록될 때 전달 특성의 편차에 의해 결정됩니다. 0,5dB의 편차는 3% 고조파 왜곡에 해당합니다(그림 17). 이 방법은 Reel-to-reel 테이프 레코더에 대해 [18]에 설명되어 있으며 카세트 테이프 레코더에 대해서는 얻은 결과의 정확성을 확인해야 합니다. 일반적으로 숙련된 튜너는 정현파 모양의 왜곡에서 3% 이상의 왜곡을 알아차립니다.
바이어스 전류를 설정한 후 전체 주파수 범위에서 주파수 응답의 선형성을 확인해야 합니다. 미국에서 고주파 교정을 줄여야 할 수도 있습니다. 녹음 표시기의 "XNUMX"을 공칭 수준으로 설정하는 것은 평소와 같이 측정 테이프에서 SW를 보정한 후 또는 노이즈와 왜곡 사이의 절충에 의해 ML(및 US)의 과부하 용량을 기준으로 수행됩니다. 이 기사는 직렬 헤드에만 전념하므로 기록 품질에 대한 갭 폭, 백 갭 등과 같은 설계 매개변수의 영향은 여기에서 고려되지 않았습니다. 결론적으로 한 가지 경고: 재료의 우수한 고주파 및 유전 특성으로 인해 페라이트 헤드는 라디오, 모터 정류자 스파크 및 펄스 제어 모터의 고주파 간섭에 취약합니다. 이를 위해서는 공통 와이어를 포함하여 전원 회로를 조심스럽게 분리해야 합니다. 때로는 간섭을 줄이기 위해 컬렉터 모터를 축 주위로 회전시켜야 하며(일반적으로 테이프 레코더 설계에 제공됨) 이것이 도움이 되지 않으면 아래에 구리 고주파 스크린을 설치해야 합니다. MG의 랜딩 패드. 디자인이 허용하는 경우 카세트 수신기를 차폐하는 것이 유용합니다. 문학
저자: V.Sachkovsky, 상트페테르부르크
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▪ 기사 관객의 미소 수에 따라 공연 비용이 결정되는 극장은 어디에 있습니까? 자세한 답변 ▪ 기사 디지털 시간 릴레이. 무선 전자 및 전기 공학 백과사전 ▪ 기사 A1524 칩의 톤 블록. 무선 전자 및 전기 공학 백과사전 기사에 대한 의견: 블라디미르 훌륭한! 많은 도움이 되었습니다! Виктор 훌륭하고 매우 유익한 기사입니다! 많은 것을 배웠습니다. 알렉산더 F. 전문성에 감사드립니다. 이것은 요즘 드문 일입니다.
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